一、产品概述：
用于土壤分析和环境治理的Vanta土壤重金属分析仪：
坚固耐用、改进创新、高效多产
快速有效地对各种场地进行筛检，探测出重金属污染物质
监控污染物质和营养物质，保证安全合理地使用土地
在遵守环境管理规定的过程中节约了时间、降低了成本
Vanta土壤重金属分析仪可用于快速、准确地辨别和定量污染金属元素。这款分析仪可被带到任何场所进行检测，并在场地定性、房产评估、污染物跟踪、危险废料筛查、治理监控及合规检测等应用中快速得到检测结果。用于环境检测的Vanta 分析仪在样件准备方面几乎没有要求，是用于筛查大面积场地和分析袋装土壤、沉积物、流体等样品的一款极为完美的工具。
Vanta 分析仪是测量需优先探测的银（Ag）、砷（As）、镉（Cd）、铬（Cr）、铜（Cu）、Hg（汞）、镍（Ni）、铅（Pb）、硒（Se）、铊（Tl）、锌（Zn）等污染元素，以及《资源保护及恢复法案》（RCRA）中限制的银（Ag）、砷（As）、钡（Ba）、镉（Cd）、铬（Cr）、Hg（汞）、铅（Pb）和硒（Se）元素的理想工具，还可以检测稀土元素（REE）及放射性元素铀（U）、钍（Th），检测含量为PPM 到百分含量级别。
使用手持式XRF分析仪的优势特性：
快速覆盖大面积区域，从而提高了采样密度，推进了决策的时间进程。 使勘探人员立即专注于异常情况。增加密度/ 扩充采样可大程度地提高在野外进行分析的效率。 使用XRF 技术对样本进行预筛选，可以为在实验室进行的分析选择优先样本，从而可更合理地预算分析经费。 在现场根据详实的信息作出决策，可以优化钻探预算经费的使用。
坚固耐用：
符合IP 65/64评级标准，可以抵御灰尘和雨水的侵袭；
通过了从4英尺高处坠落的测试（MIL-STD 810G），适合复杂场地和生产环境；
可以在 -10 °C到50 °C的温度范围内操作 ；
为装有硅漂移探测器的分析仪，提供了金属自动挡板保护昂贵的探测器。
改进创新：
采用特有的Axon技术，更高的X 射线计数率，更快、更准确的检测结果，以及更低的检出限
接近于理论极限的分辨率
无需标样自动能量校准，分析仪自动进行能量校准，保证了极高的测试稳定性
四核处理器可使用户在极短的时间内获得佳分析结果
高效多产：
简单直观的用户界面（UI）可使用户快速浏览分析仪的设置和软件功能
根据用户的特定需求，配置用户界面
用户可以自行定制显示在主屏幕上的功能快捷键
通过USB闪存驱动盘、Wi-Fi或蓝牙完成的数据导出操作非常简单
二、技术参数：
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外形尺寸 |
8.3 cm × 28.9 cm × 24.2 cm（宽× 高× 厚） |
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激励源 |
根据不同应用，阳极靶可选择铑（Rh）、银（Ag）和钨（W）。M系列（Rh 和W）和C系列（Ag）: 8～ 50 KV 、C系列（Rh和 W）：8～40 KV、L系列（W）: 大 35KV |
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滤光片 |
8个滤光片，自动切换滤光片 |
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探测器 |
M系列：大区域SDD 硅漂移探测器 |
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C系列：SDD硅漂移探测器 |
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L系列：Si-Pin探测器 |
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电源 |
可拆装的14.4 V锂离子电池或18 V电源变压器， 100～240 VAC，50～60 Hz, 大70 W |
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显示 |
800 × 480 (WVGA) 液晶电容式触摸屏，可使用手指进行控制 |
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环境 |
温度：-10℃~50℃（带可选风扇时，可连续工作） 湿度：相对湿度为10 %～90 %，无冷凝 |
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坠落测试 |
通过了美军标准810-G的1.22 米高防坠落测试 |
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IP 评级 |
M系列符合IP 64 评级的要求：防尘，而且可防止来自各个方向的水溅 |
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C系列符合IP 65 评级的要求：防尘，而且可防止来自各个方向的水喷 |
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L系列符合IP 65 评级的要求：防尘，而且可防止来自各个方向的水喷 |
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压力校正 |
内置气压计，用于海拔和空气密度的自动校正 |
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GPS |
嵌入式GPS/GLONASS接收器 |
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操作系统 |
Linux |
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数据存储 |
4GB 嵌入存储，带有microSD 卡插槽，可扩展存储容量 |
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USB |
两个USB 2.0 A型主端口，用于诸如Wi-Fi、Bluetooth 和USB闪存驱动盘等配件 一个USB 2.0 袖珍B 型端口，用于连接计算机 |
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WiFi |
通过可选购USB适配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz） |
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蓝牙 |
通过可选购USB适配器，支持蓝牙和蓝牙低能量功能 |
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瞄准摄像头 |
全VGA CMOS摄像头 |
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全景摄像头 |
500万像素CMOS 摄像头，带自动聚焦透镜 |
服务热线：
